Получение карты распределения остаточного напряжения доступно для всех моделей LXRD, что позволяет пользователям получить полную картину состояния остаточного напряжения на всем исследуемом объекте. Автоматизированная регистрация остаточного аустенита позволяет характеризовать RA% в сталях до 1% в соответствии со стандартом ASTM E915. Определение рентгеновской упругой постоянной (XEC - X-ray elastic constant) обеспечивает автоматическую калибровку прибора для измерения остаточного напряжения материала согласно стандарту ASTM E1426. Полюсные фигуры, полученные с использованием поворотного столика LXRD, могут использоваться для предварительного анализа ориентации кристаллов, ориентации монокристалла и измерения напряжения в монокристаллах.
![](/assets/template/img/products/science/proto/difraktometry-ostatochnyx-napryazhenij/don-1.jpg)
Карта остаточных напряжений
![](/assets/template/img/products/science/proto/difraktometry-ostatochnyx-napryazhenij/don-2.jpg)
Полюсная фигура
![](/assets/template/img/products/science/proto/difraktometry-ostatochnyx-napryazhenij/don-3.jpg)
Столики для картирования по осям X,Y, ϕ
![](/assets/template/img/products/science/proto/difraktometry-ostatochnyx-napryazhenij/don-4.jpg)
Определение XEC с помощью 4-точечного изгиба
![](/assets/template/img/products/science/proto/difraktometry-ostatochnyx-napryazhenij/don-5.jpg)
Автоматическое измерение остаточного аустенита