Система BH-PI920 - Система оснащенная оптическим микроскопом

Гибкая, оснащенная оптическим микроскопом система, предназначенная для измерения магнитных свойств тонких пленок и структурированных магнитных микроустройств посредством меридионального и полярного эффектов Керра, а также наблюдения процесса намагничивания образца с высоким пространственным разрешением.