EN JP
+7 (495) 223-40-00
+7 (495) 223-40-00
TOKYO BOEKI

ПЭМ JEOL JEM-ARM300F

JEM-ARM300F
Япония
Просвечивающие микроскопы
Встроенные додекапольные корректоры сферических аберраций (Cs-корректоры) производства JEOL, наличие ПРЭМ-режима и возможность оснащения дополнительными приставками делают этот микроскоп поистине универсальным.

Источником электронов в JEM-ARM300F служит сверхстабильная пушка HyperCF300 с «холодным» (автоэмиссионным) катодом. При использовании высокоуглового кольцевого детектора темного поля (STEM-HAADF) прибор позволяет получать разрешение 50 пикометров. Энергетическая дисперсия электронов пучка не превышает 0,3 эВ. Высокая яркость пучка, малый энергетический разброс электронов и стабильная эмиссия катода ПЭМ JEM-ARM300F обеспечивают высочайшее качество получаемых изображений, высокую локальность и достоверность результатов анализа.

Атомное пространственное разрешение в JEM-ARM300F сочетается с высоким током зонда, что определяет высокую скорость проведения микроанализа. Прибор демонстрирует высочайшую стабильность как при получении изображений, так и в режиме анализа в суб-нанометровом диапазоне.