ПЭМ JEOL JEM-ARM300F

Источником электронов в JEM-ARM300F служит сверхстабильная пушка HyperCF300 с «холодным» (автоэмиссионным) катодом. При использовании высокоуглового кольцевого детектора темного поля (STEM-HAADF) прибор позволяет получать разрешение 50 пикометров. Энергетическая дисперсия электронов пучка не превышает 0,3 эВ. Высокая яркость пучка, малый энергетический разброс электронов и стабильная эмиссия катода ПЭМ JEM-ARM300F обеспечивают высочайшее качество получаемых изображений, высокую локальность и достоверность результатов анализа.
Атомное пространственное разрешение в JEM-ARM300F сочетается с высоким током зонда, что определяет высокую скорость проведения микроанализа. Прибор демонстрирует высочайшую стабильность как при получении изображений, так и в режиме анализа в суб-нанометровом диапазоне.