ПЭМ JEOL JEM-ARM300F

Описание
Спецификация

Встроенные додекапольные корректоры сферических аберраций (Cs-корректоры) производства JEOL, наличие ПРЭМ-режима и возможность оснащения дополнительными приставками делают этот микроскоп поистине универсальным.

Источником электронов в JEM-ARM300F служит сверхстабильная пушка HyperCF300 с «холодным» (автоэмиссионным) катодом. При использовании высокоуглового кольцевого детектора темного поля (STEM-HAADF) прибор позволяет получать разрешение 50 пикометров. Энергетическая дисперсия электронов пучка не превышает 0,3 эВ. Высокая яркость пучка, малый энергетический разброс электронов и стабильная эмиссия катода ПЭМ JEM-ARM300F обеспечивают высочайшее качество получаемых изображений, высокую локальность и достоверность результатов анализа.

Атомное пространственное разрешение в JEM-ARM300F сочетается с высоким током зонда, что определяет высокую скорость проведения микроанализа. Прибор демонстрирует высочайшую стабильность как при получении изображений, так и в режиме анализа в суб-нанометровом диапазоне.

Гарантированное разрешение
в режиме ПРЭМ	0,063 нм (при 300 кВ) 0,136 нм (при 80 кВ)
в режиме ПЭМ по точкам	0,06 нм (при 300 кВ)
в режиме ПЭМ по решетке	0,05 нм
Увеличение
в режиме ПРЭМ	от х200 до х150 000 000
в режиме ПЭМ	от х50 до х2 000 000
Источник электронов
Электронная пушка	с автоэмиссионным («холодным») катодом
Ускоряющее напряжение	от 80 до 300 кВ (60 кВ опционально)
Столик образцов
Тип столика	Эвцентрический с боковым вводом
Диаметр образцов	3 мм
Угол наклона	±25° (при использовании держателя с двойным наклоном)
Диапазоны перемещения	по X/Y: ±1,0 мм (моторизация + пьезоподвижка)
Cs-корректоры и приставки
Cs-корректор ПРЭМ-режима	опционально
Cs-корректор ПЭМ-режима	опционально
Дополнительные приставки	- Энергодисперсионный спектрометр - Спектрометр характеристических потерь энергии электронов и/или энергетический фильтр - Различные ПЗС-камеры бокового и нижнего крепления - Держатели с охлаждением, нагревом, механическими нагрузками на образец и т.п.