Встроенные додекапольные корректоры сферических аберраций (Cs-корректоры) производства JEOL, ПРЭМ-режим и возможность оснащения дополнительными приставками делают этот микроскоп поистине универсальным.
ПЭМ JEM-ARM200F выпускается в двух версиях: с источником электронов на базе термополевого катода Шоттки или с «холодным» (автоэмиссионным) катодом. В первом случае, при использовании темнопольного высокоуглового детектора (STEM-HAADF), прибор позволяет получать разрешение 80 пикометров. В модификации с «холодным» катодом гарантируется разрешение 78 пикометров и энергетическая дисперсия пучка в пределах 0,3 эВ. При этом более высокая яркость пучка, меньший энергетический разброс и сверхстабильная эмиссия существенно повышают качество получаемых изображений, локальность и достоверность результатов элементного анализа. JEM-ARM200F с холодным катодом – единственный в мире прибор с технологией «Flash & Go», позволяющей осуществлять периодический отжиг катода (flashing) за очень короткий промежуток времени (1 минута!), экономя время исследователя.
Атомное пространственное разрешение в JEM-ARM200F сочетается с высоким током зонда, что определяет высокую скорость проведения микроанализа. JEM-ARM200F демонстрирует высочайшую стабильность, как при получении изображений, так и в режиме анализа в суб-нанометровом диапазоне.
