EN JP
+7 (495) 223-40-00
+7 (495) 223-40-00
TOKYO BOEKI

ПЭМ JEOL JEM-3200FSC

JEM-3200FSC
Япония
Просвечивающие микроскопы
300 кВ полевой источник электронов с катодом Шоттки обеспечивает яркий, когерентный электронный пучок для количественных исследований, которые сейчас являются все более актуальными в различных областях. Особенностью JEM-3200FSC является криогенный столик образцов, охлаждаемый жидким гелием, обеспечивающий исследование образца при температуре менее 25К.

Также прибор оснащен столиком образцов бокового ввода с пьезо-перемещением, функцией компенсации дрейфа и возможностью наклона ±70 градусов. Быстрое переключение режимов, полностью компьютеризированное управление и получение данных – стандартные функции данного ПЭМ.

Другие интересные особенности ПЭМ JEM-3200FSC:
  • Разрешение по решетке 0.20 нм при температуре 18К
  • Энергетическое разрешение при получении изображений 20 эВ
  • Энергетическое разрешение в режиме спектрометра 0.9 эВ
  • Источник электронов с полевой эмиссией
  • Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
  • Увеличение в диапазоне х100 - х1200000
  • Ручная смена образца
Ускоряющее напряжение От 100кВ до 300 кВ
Разрешение: по точкам
0.17 нм
по решётке
0.204 нм
Электронная пушка ZrO/W (100) Шоттки
Увеличение x100 - x1,200,000
Длина камеры 250 – 3000 мм
Характеристики объективной линзы: Сферические аберрации
3.4 мм
Хроматические аберрации
4.4 мм
Спектрометр Омега-типа, встроенный в колонну
Столик образцов Криогенный, с гелиевым охлаждением
Камера образцов: Количество образцов в одной загрузке
1
Максимальный угол наклона образца на стандартном держателе
±70 градусов
Перемещение образца По X
2,0 мм
По Y
2,0 мм
По Z
0,4 мм (±0,2 мм)