ПЭМ JEOL JEM-3200FSC

Описание
Спецификация

300 кВ полевой источник электронов с катодом Шоттки обеспечивает яркий, когерентный электронный пучок для количественных исследований, которые сейчас являются все более актуальными в различных областях. Особенностью JEM-3200FSC является криогенный столик образцов, охлаждаемый жидким гелием, обеспечивающий исследование образца при температуре менее 25К.

Также прибор оснащен столиком образцов бокового ввода с пьезо-перемещением, функцией компенсации дрейфа и возможностью наклона ±70 градусов. Быстрое переключение режимов, полностью компьютеризированное управление и получение данных – стандартные функции данного ПЭМ.

Другие интересные особенности ПЭМ JEM-3200FSC:

Разрешение по решетке 0.20 нм при температуре 18К
Энергетическое разрешение при получении изображений 20 эВ
Энергетическое разрешение в режиме спектрометра 0.9 эВ
Источник электронов с полевой эмиссией
Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
Увеличение в диапазоне х100 - х1200000
Ручная смена образца

Ускоряющее напряжение	От 100кВ до 300 кВ
Разрешение:	по точкам 0.17 нм	по решётке 0.204 нм
Электронная пушка	ZrO/W (100) Шоттки
Увеличение	x100 - x1,200,000
Длина камеры	250 – 3000 мм
Характеристики объективной линзы:	Сферические аберрации 3.4 мм	Хроматические аберрации 4.4 мм
Спектрометр	Омега-типа, встроенный в колонну
Столик образцов	Криогенный, с гелиевым охлаждением
Камера образцов:	Количество образцов в одной загрузке 1	Максимальный угол наклона образца на стандартном держателе ±70 градусов
Перемещение образца	По X 2,0 мм	По Y 2,0 мм	По Z 0,4 мм (±0,2 мм)

Вы смотрели (1)