EN JP
+7 (495) 223-40-00
+7 (495) 223-40-00
TOKYO BOEKI

ПЭМ JEOL JEM-3200FS

JEM-3200FS
Япония
Просвечивающие микроскопы
Благодаря Омега-фильтру этот прибор позволяет не только получать изображения с высоким разрешением, но и становится великолепным аналитическим инструментом, позволяющим делать элементный анализ на атомарном уровне.

Новая электронная оптика исключает паразитный поворот изображения, что обеспечивает не только удобство работы в режимах ПЭМ и дифракции, но и в режиме получения энергетических спектров.

Помимо Омега-фильтра, прибор имеет ряд других уникальных особенностей, например, это пьезо-гониометр, обеспечивающий перемещения образца с ангстремной точностью.

Ускоряющее напряжение От 100кВ до 300 кВ
Разрешение: по точкам
0.17 нм (300 кВ)
по решётке
0.1 нм (300 кВ)
Электронная пушка ZrO/W (100) Шоттки
Увеличение x100 - x1,500,000
Длина камеры 200 – 2000 мм
Характеристики объективной линзы: Сферические аберрации
0.6 мм
Хроматические аберрации
1.5 мм
Спектрометр Омега-типа, встроенный в колонну
Энергетическое разрешение спектрометра 0.9 эВ
Столик образцов Гониометрический, с пьезоперемещением
Камера образцов: Количество образцов в одной загрузке
1
Максимальный угол наклона образца на стандартном держателе
±22 градуса (большие углы возможны на специальных держателях для больших углов наклона)
Перемещение образца По X
2,0 мм
По Y
2,0 мм
По Z
0,2 мм (±0,1 мм)