Более компактный эргономичный JEM-2100Plus занимает существенно меньше места: ширина прибора 2036мм вместо 2250мм, ассиметричный стол оператора стал гораздо удобнее. Панели управления с металлическими кнопками и ручками снабжены LED подсветкой.
Широкий выбор полюсных наконечников и различных приставок позволяет сконфигурировать JEM-2100Plus для решения самых разнообразных задач в сфере материаловедения, микро- и наноэлектроники, биологии и медицины.
Новая система управления «TEM Center», которая уже опробована на других моделях ПЭМ (JEM-1400Plus, JEM-ARM200F и др.) и доказала удобство и эффективность, работает под 64-битной версией Microsoft Windows и позволяет легко переключаться между различными режимами работы. На экран компьютера выведено управление всеми основными параметрами прибора.
Высокоточный, стабильный гониометрический столик образцов JEM-2100Plus, оснащенный пьезомеханической системой подвижки и компенсации дрейфа, позволяет получать четкие микрофотографии высокого разрешения, осуществлять элементное картирование образцов с высокой локальностью, а также проводить их 3D-томографию.
В конструкцию электронно-оптической колонны JEM-2100Plus заложены три независимые конденсорные линзы, которые обеспечивают высокий ток для любого диаметра пучка, обеспечивая тем самым широкие возможности для проведения элементного анализа и микродифракции. Разработанный специалистами компании JEOL Alpha Selector™ позволяет пользователю легко выбирать любой режим освещения образца: от полностью сходящегося пучка до полностью параллельного. Наблюдение магнитных доменов (микроскопия Лоренца) доступно даже в базовой комплектации прибора. Диафрагма высокого контраста, совместимая с любым полюсным наконечником, позволяет одновременно получать высококонтрастные изображения и проводить элементный анализ.
Возможность выбора цифровых камер от третьих производителей или собственная разработка JEOL – полностью интегрированная 8Мп камера нижнего крепления, с четко работающим набором автофункций (экспозиция, автофокус, запись и монтаж изображений, компенсация дрейфа) и управлением через общий TEM Center. В комбинации с ПРЭМ-режимом также есть возможность использования функций автофокусировки, автоконтраста/автояркости и системы навигации, позволяющей автоматически перемещать столик образцов в любую ранее записанную точку.
