EN JP
+7 (495) 223-40-00
+7 (495) 223-40-00
TOKYO BOEKI

ПЭМ JEOL JEM-1400Plus

JEM-1400Plus
Япония
Просвечивающие микроскопы
Разработан для применения в широкой области направлений от биологии до исследования материалов, таких как полимеры, наноматериалы и т.д.

Новая конфигурация оптимизирована для более удобной работы ПЭМ: Новая операционная панель и ЖК сенсорный монитор делает легким и простым управление прибором. Высоко разрешающая камера (8 M пикселей) полностью интегрирована с программой управления ПЭМ через персональный компьютер.

Программное обеспечение [SightX] позволяет пользователю просматривать и редактировать полученные изображения, работая на другом компьютере, не соединенном в сеть с микроскопом Множество автоматизированных функций, включающих авто-фокус, авто-экспозицию и авто-монтаж. Новая линзовая система для формирования изображения с минимальным увеличением в 10 раз позволяет получать изображение предметной сетки целиком.

Высококонтрастная модификация ПРЭМ-модификация
Разрешение
В режиме ПЭМ по решетке
В режиме ПЭМ по точкам
В режиме ПРЭМ
0,20 нм
0,38 нм
2,0 нм
Ускоряющее напряжение
Диапазон
Минимальный шаг
Стабильность
40 - 120 кВ
33 В
2 x 10-6/мин.
Увеличение
В режиме высоких увеличений
В режиме низких увеличений
x200-1,200,000
x10-1,000
x5,000-2,000,000
x120-4,000
Длина камеры
SA DIFF
HD DIFF
150-3,500 мм
4-80 м
15-3,000 мм
4-80 м
Конденсорная линза
конструкция линзы
Минимальный диаметр пучка
2-ступенчатая
0,2 мкм
3- ступенчатая
50 нм
Столик образцов
5-осевой моторизованный с пьезоподвеской
Камера образцов
Количество загружаемых образцов
Наклон образца (по оси X)
1
±25° (±70° с использованием специального держателя)
Диапазон перемещений образца
В направлении X
В направлении Y
В направлении Z
±1,0 мм
±1,0 мм
±0,5 мм