Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр JPS-9030

Описание
Спецификация

Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр нового поколения JPS-9030 позволяет проводить анализ поверхности быстро, с высокой степенью воспроизводимости, независимо от типа образца и квалификации оператора. Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана идеально подходит для травления с различными скоростями как органических, так и неорганических образцов. Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронного спектрометра с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронного спектроскометра полного отражения (TRXPS), а также возможность исследований материалов при высоких и низких температурах.

Основные преимущества JPS-9030:

Кластерная ионная аргоновая пушка Кауфмана позволяет проводить травление образцов со скоростями от 1 до 100нм/мин. (скорость измерена на SiO2) и прекрасно подходит для работы как с органическими (кластерный режим), так и с неорганическими материалами (мономерный режим). Установка пушки Кауфмана в шлюзовой камере позволяет избегать загрязнения камеры измерений;
Новое программное обеспечение SpecSurf версии 2.0 использует усовершенствованные алгоритмы деконволюции спектров, основанные на стандартных базах данных рентгеновских фотоэлектронных и Оже-спектров, и позволяет проводить по запатентованным компанией JEOL методикам качественный, количественный анализ, а также изучать химическое состояние вещества в каждой точке образца;
Кроме режимов фотоэлектронного спектрометра и РФЭС-микрозонда, JPS-9030 реализует режимы фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением (ARXPS) и фотоэлектронной спектроскопии полного отражения (TRXPS);
Используемая в полусферическом анализаторе микроканальная пластина обладает высочайшей чувствительностью и позволяет регистрировать электроны с превосходным соотношением сигнал/шум;
Инфракрасная нагревательная приставка позволяет исследовать образцы при температурах до 1000°C и выше;
Высоковакуумный транспортировочный контейнер предохраняет образцы от контакта с атмосферой при переноске.
Интуитивно понятный пользовательский интерфейс.

Рентгеновский источник
Анод	Al/Mg
Ускоряющее напряжение	3-12 кВ
Ток катод-анод	2,5-50мА
Интенсивность пика Ag 3d_5/2 (возбуждение Mg K_a, 300 Вт):
Разрешение (Ag 3d_5/2, ПШПВ)	1,0 эВ
Максимальная мощность	500 Вт (Mg) / 600 Вт (Al)
Интенсивность пика	более 1 000 000 имп./с
Анализатор энергии электронов
Тип анализатора	полусферический электростатический
Радиус центральной орбиты	100 мм
Детектор	микроканальная пластина
Входные линзы	комбинированные электромагнитные и электростатические с диафрагмами поля зрения и угла сбора
Развертка по энергиям	Constant Analyzer Energy (CAE) Constant Retarding Ratio (CRR)
Энергия прохождения	5-200 эВ
Диапазон сканирования по энергии	0 – 1480 эВ
Минимальный шаг сканирования	0,025 эВ
Энергетическое разрешение ΔE/E (CRR)	от 0,15 до 0,5 %
Столик образцов
Диапазон перемещений образца	X: 50 мм; Y: 18 мм; Z: ±2 мм, T (наклон): от -10 до +10°
Максимальный размер образца	90 мм в диаметре; 1,5 мм высотой
Вакуумная система
Давление в камере образцов	7×10^-8 Па и ниже
Система отжига	Встроенная, автоматическая
Устанавливаемые приставки	Камера подготовки образцов
Устанавливаемые приставки	Газовый реактор Вторично-ионный масс-спектрометр Приставка для нагрева и охлаждения образцов Высоковакуумный транспортировочный контейнер *возможна установка других приставок по согласованию с заводом-изготовителем фирмы JEOL Ltd.

Другое оборудование / техника этой категории: